发明名称 High-temperature section extensometer
摘要 Metoda pomiaru odksztalcen poprzecznych w trakcie badan w podwyzszonych i wysokich temperaturach wykorzystuje dwuosiowy ekstensometr wysokotemperaturowy (1), jako element rejestrujacy poziom odksztalcen oraz innowacyjny ksztalt macek posredniczacych (2) oraz (3) w okreslaniu odksztalcen poprzecznych próbki. Geometria elementów laczacych próbke (2), (3) zamknieta w piecu z elementami rejestrujacymi odksztalcenie (1), znajdujacymi sie na zewnatrz strefy dzialania temperatury powoduje, ze wyprofilowane macki maja za posrednictwem elementów sprezystych (4) zapewniony staly kontakt z czescia pomiarowa próbki (5). Macki w odmianie prawej i lewe posiadaja trzy odgiecia przekroju kolowego pod katem 90° uksztaltowane z minimalnym promieniem zaleznym od przyjetej srednicy macki oraz jednym lukiem kolowym.
申请公布号 PL399119(A1) 申请公布日期 2013.11.12
申请号 PL20120399119 申请日期 2012.05.09
申请人 POLITECHNIKA BIALOSTOCKA 发明人 SZUSTA JAROSLAW
分类号 G01B5/30;G01N3/18 主分类号 G01B5/30
代理机构 代理人
主权项
地址