METODO DE DETERMINACION DE PARAMETROS RETICULARES DE MATERIALES CRISTALINOS MEDIANTE DIFRACCION DE ELECTRONES DE ALTA RESOLUCION

摘要

Método de determinación de parámetros reticulares de materiales cristalinos mediante difracción de electrones de alta resolución. Permite medir parámetros reticulares de cristales de tamaños variables presentes en materiales monocristalinos y policristalinos, a partir de diagramas de difracción de electrones recopilados en microscopios electrónicos de transmisión. Con este método se miden distancias reticulares a partir de diagramas de difracción de electrones de área seleccionada (SAED), lo que permite medir los parámetros reticulares de capas delgadas e incluso de motivos de tamaños nanométricos. Los cálculos realizados tienen en cuenta la calibración de los valores de longitud de cámara real y la presencia de las distorsiones que puedan estar modificando los diagramas de difracción. Se trata de una herramienta útil para el estudio y desarrollo de nuevos materiales cristalinos con aplicación en el ámbito de la tecnología de materiales avanzados.