| 发明名称 | 一种液晶玻璃基板的品质测量系统 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及液晶玻璃基板技术领域，尤其涉及一种液晶玻璃基板的品质测量系统，它包括控制器、量测机台、面板品质数据处理单元和若干台制程机台，所述控制器连接所述量测机台、面板品质数据处理单元和若干台制程机台。 | ||
| 申请公布号 | CN203275821U | 申请公布日期 | 2013.11.06 |
| 申请号 | CN201320296262.8 | 申请日期 | 2013.05.28 |
| 申请人 | 湖北优尼科光电技术有限公司 | 发明人 | 陈必盛 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人 | 王伟锋;刘铁生 |
| 主权项 | 一种液晶玻璃基板的品质测量系统，其特征在于：它包括中央控制器（1）、量测机台（3）、面板品质数据处理单元（4）和若干台制程机台（5），所述中央控制器（1）连接所述量测机台（3）、面板品质数据处理单元（4）和若干台制程机台（5）。 | ||
| 地址 | 432500 湖北省孝感市云梦县城北工业园区湖北优尼科光电技术有限公司 | ||