发明名称 分析位置的方法与装置
摘要 本发明是有关于一种分析位置的方法与装置。其中的分析位置的方法包括:由多个传感器取得相应于至少一外部对象接近或触碰的一触碰相关感测资讯;预设该触碰相关感测资讯中相应于一第一种外部对象的一第一特性与相应于一第二种外部对象的一第二特性,其中该第一特性与该第二特性相反;依据该第一特性与该第二特性在该触碰相关感测资讯中辨识该第一种外部对象、该第二种外部对象、或两者的接近或触碰。本发明通过笔提供交流信号,相应于手的触碰相关感测资讯的第一特性与相应于笔的触碰相关感测资讯的第二特性相反。第一特性与第二特性可被用来区隔手与笔的触碰或手掌忽视。本发明提供的上述技术方案能让一般人以惯的方式来进行文字的输入。
申请公布号 CN102043507B 申请公布日期 2013.10.23
申请号 CN201010502634.9 申请日期 2010.10.08
申请人 禾瑞亚科技股份有限公司 发明人 张钦富;李政翰;唐启豪;何顺隆
分类号 G06F3/041(2006.01)I 主分类号 G06F3/041(2006.01)I
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人 寿宁;张华辉
主权项 一种分析位置的方法,其特征在于,包括:由多个传感器取得相应于至少一外部对象接近或触碰的一触碰相关感测资讯;预设该触碰相关感测资讯中相应于一第一种外部对象的一第一特性与相应于一第二种外部对象的一第二特性,其中该第一特性与该第二特性相反;以及依据该第一特性与该第二特性在该触碰相关感测资讯中辨识该第一种外部对象、该第二种外部对象、或两者的接近或触碰;其中相应于该第一种外部对象的一第一特性的触碰相关感测资讯全部为正值、全部为负值或至少一单一或连续多个正值的集合与至少一单一或连续多个负值的集合的交替组合;其中该第一种外部对象与该第二种外部对象之一为接地导体,并且该第一种外部对象与该第二种外部对象的另一为提供一交流信号的信号源;其中依据该第一特性与该第二特性在该触碰相关感测资讯中辨识该第一种外部对象、该第二种外部对象、或两者的接近或触碰包括:依据一第一门槛限值在该触碰相关感测资讯中决定至少一第一起始位置;依据一第二门槛限值在该触碰相关感测资讯中决定至少一第二起始位置;分别由每一个第一起始位置朝一第一方向的一第一范围进行一第一零交会处位置分析,其中第一范围是由起始位置至一零交会处的前一值、零交会处、或零交会处的后一值;以及分别由每一个第二起始位置朝一第二方向的一第二范围进行该第一零交会处位置分析,其中该第一零交会处位置分析所分析出来的零交会处为相应该第一种外部对象接近或触碰的位置,并且该第一范围与该第二范围不包括相应至少一该第二种外部对象的触碰相关感测资讯,其中第二范围是由起始位置至一零交会处的前一值、零交会处、或零交会处的后一值;所述零交会处为位于一正值与一负值间,所述的正值与负值为彼此相邻或间隔至少一零值。
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