| 发明名称 | 执行磁头在片测试的方法和系统 | ||
| 摘要 | 描述了测试读换能器的方法和系统。所述读换能器包括制造在晶片上的读传感器。系统包括位于所述晶片上的测试结构。所述测试结构包括测试器件和加热器。所述测试器件对应所述读传感器。所述加热器靠近所述测试器件和经配置加热所述测试器件而大体上不加热所述读传感器。因此，所述测试结构允许在多个高于环境温度的温度下对所述测试器件进行在片测试。 | ||
| 申请公布号 | CN103366762A | 申请公布日期 | 2013.10.23 |
| 申请号 | CN201310103955.5 | 申请日期 | 2013.03.28 |
| 申请人 | 西部数据（弗里蒙特）公司 | 发明人 | C·尚;D·毛里;K·S·霍 |
| 分类号 | G11B5/455(2006.01)I | 主分类号 | G11B5/455(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人 | 赵蓉民 |
| 主权项 | 一种用于测试包括制造在晶片上的读传感器的读换能器的系统，所述系统包括：测试结构，所述测试结构位于所述晶片上，所述测试结构包括测试器件和加热器，所述测试器件对应所述读传感器，所述加热器靠近所述测试器件，所述加热器经配置加热所述测试器件而大体上不加热所述读传感器，所述测试结构允许在高于环境温度的多个温度下对测试器件进行在片测试。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||