发明名称 |
检测发光二极管短路的方法及其装置 |
摘要 |
本发明公开了了一种检测发光二极管短路的方法及其装置。该检测装置,包括一第一节点、一电流源、一电压产生电路、一第一比较电路。第一节点与一第一外部电路耦接,其中,第一外部电路包括有多个发光二极管相串接。电流源产生一电流至第一节点。电压产生电路通过一第二节点,以输出一节点电压至第一外部电路。第一比较电路具有二个输入端分别耦接第一节点以及一参考电压,第一比较电路比较二个输入端的电压以产生一第一比较信号。其中,第一比较信号用以指示多个发光二极管中是否有短路情形。 |
申请公布号 |
CN103369804A |
申请公布日期 |
2013.10.23 |
申请号 |
CN201310108353.9 |
申请日期 |
2013.03.29 |
申请人 |
瑞昱半导体股份有限公司 |
发明人 |
林书民 |
分类号 |
H05B37/03(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
H05B37/03(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
赵根喜;吕俊清 |
主权项 |
一种检测电路,包括:一第一节点,与一第一外部电路耦接,其中,该第一外部电路包括有多个发光二极管相串接;一电流源,产生一电流至该第一节点;一电压产生电路,通过一第二节点,以输出一节点电压至该第一外部电路;以及一第一比较电路,具有二个输入端分别耦接该第一节点以及一参考电压,该第一比较电路比较该二个输入端的电压以产生一第一比较信号,其中,该第一比较信号用以指示该多个发光二极管中是否有短路情形。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |