发明名称 |
半导体存储器件 |
摘要 |
本发明是在由纵型晶体管SGT所构成的无负载4T-SRAM中,实现较小的SRAM单元面积。在使用4个MOS晶体管所构成的静态型存储器单元中,前述MOS晶体管为将形成于SOI衬底上的漏极、栅极、源极配置于垂直方向的SGT,且借由将存取晶体管的栅极作为字线在邻接于横方向的多个单元共通化,且将对于字线的接点依多个单元形成1个,即可实现具有极小的存储器单元面积的CMOS型无负载4T-SRAM。 |
申请公布号 |
CN103370781A |
申请公布日期 |
2013.10.23 |
申请号 |
CN201280009024.2 |
申请日期 |
2012.02.15 |
申请人 |
新加坡优尼山帝斯电子私人有限公司 |
发明人 |
舛冈富士雄;新井绅太郎 |
分类号 |
H01L21/8244(2006.01)I;H01L27/11(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/8244(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
李昕巍;赵根喜 |
主权项 |
一种半导体存储器件,具备多个在形成在衬底上的绝缘膜上排列有4个MOS晶体管的静态型存储器单元,其特征在于,前述4个MOS晶体管的各者发挥作为第1及第2PMOS的存取晶体管、与第1及第2NMOS的驱动器晶体管的功能,该第1及第2PMOS的存取晶体管为了保持存储器单元数据而用以供给电荷并且存取存储器,而该第1及第2NMOS的驱动器晶体管为了写入及读取存储器单元的数据而用以驱动存储节点;在前述第1及第2PMOS的存取晶体管中,具有P型导电型的第1扩散层、第1柱状半导体层及具有P型导电型的第2扩散层,沿垂直方向阶层地配置在形成于衬底上的绝缘膜上,而前述第1柱状半导体层被配置在形成于前述第1柱状半导体层的底部的前述第1扩散层、与形成于前述第1柱状半导体层的上部的前述第2扩散层之间,而于前述第1柱状半导体层的侧壁则形成有栅极绝缘膜与栅极;在前述第1及第2NMOS的驱动器晶体管中,具有N型导电型的第3扩散层、第2柱状半导体层及具有N型导电型的第4扩散层,沿垂直方向阶层地配置在形成于衬底上的绝缘膜上,而前述第2柱状半导体层被配置在形成于前述第2柱状半导体层的底部的前述第3扩散层、与形成于前述第1柱状半导体层的上部的前述第4扩散层之间,而于前述第2柱状半导体层的侧壁则形成有栅极绝缘膜与栅极;前述第1PMOS的存取晶体管及前述第1NMOS的驱动器晶体管彼此邻接排列;前述第2PMOS的存取晶体管及前述第2NMOS的驱动器晶体管彼此邻接排列;将发挥作为保持数据的第1存储节点的功能的具有P型导电型的前述第1扩散层及具有N型导电型的前述第3扩散层配置在前述绝缘膜上,其中该第1扩散层形成在前述第1PMOS的存取晶体管的底部,而该第3扩散层形成在前述第1NMOS的驱动器晶体管的底部;发挥作为前述第1存储节点的功能的前述第1扩散层、前述第3扩散 层彼此连接;将发挥作为保持数据的第2存储节点的功能的具有P型导电型的前述第1扩散层及具有N型导电型的前述第3扩散层配置在前述绝缘膜上,其中该第1扩散层形成在前述第2PMOS的存取晶体管的底部,而该第3扩散层形成在前述第2NMOS的驱动器晶体管的底部;发挥作为前述第2存储节点的功能的前述第1扩散层、前述第3扩散层彼此连接;前述第1及前述第2PMOS的驱动器晶体管的各者的栅极借由第1栅极配线而彼此连接,而前述第1栅极配线借由与邻接的多个存储器单元中的前述第1及前述第2PMOS的存取晶体管的各者的栅极彼此连接而形成字线;分别于邻接的多个存储器单元,在属于字线的前述第1栅极配线上形成第1接点。 |
地址 |
新加坡柏龄大厦 |