| 摘要 |
本发明系提供一藉由测量发光二极体(LED)晶片的特征以选别发光二极体晶片之发光二极体晶片选别装置。;该发光二极体晶片选别装置系包括：一进给器，包括一安装构件，其组构为可在其上安装一发光二极体晶片，并用来使安装构件旋转于一其中使发光二极体晶片被装载在安装构件上的装载位置、一其中使发光二极体晶片受到测试的测试位置、及一其中使发光二极体晶片从安装构件被卸载的卸载位置之间；一装载器，其装设于进给器旁边并用来将待测试的发光二极体晶片进给至处于装载位置之安装构件上；一测试器，其装设于进给器旁边并用来测量处于测试位置之发光二极体晶片的特征；及一卸载器，其装设于进给器旁边并用来从处于卸载位置之安装构件卸载经测试的发光二极体晶片。 |
