发明名称 |
多探头OLED光学参数测试系统 |
摘要 |
本实用新型公开了一种多探头OLED光学参数测试系统,该测试系统能够实现对多件被测OLED样品同时进行测试,并且准确性高。该系统包括光学参数测试单元和OLED驱动单元,所述光学参数测试单元包括色彩分析仪、至少两个测试探头以及多探头扩展板,所述多探头扩展板用于连接色彩分析仪和测试探头,所述OLED驱动单元用于驱动OLED被测件,所述测试探头与色彩分析仪连接,测试探头用于采集OLED被测件的光学参数信息并且将光学参数信息传输到色彩分析仪。多探头OLED光学参数测试系统实现了同时对多个OLED被测件的光学参数的信息采集,并且通过增加测试控制单元对测试探头的控制,排除了人为因素造成的误差,保证了采集数据的准确性,提高了检测系统的精确度。 |
申请公布号 |
CN203241216U |
申请公布日期 |
2013.10.16 |
申请号 |
CN201320165229.1 |
申请日期 |
2013.04.03 |
申请人 |
四川虹视显示技术有限公司 |
发明人 |
张光浩 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 |
代理人 |
周永宏 |
主权项 |
多探头OLED光学参数测试系统,包括光学参数测试单元和OLED驱动单元,其特征在于:所述光学参数测试单元包括色彩分析仪、至少两个测试探头(2)以及多探头扩展板(1),所述多探头扩展板(1)用于连接色彩分析仪和测试探头(2),所述OLED驱动单元用于驱动OLED被测件,所述测试探头(2)与色彩分析仪连接,测试探头(2)用于采集OLED被测件的光学参数信息并且将光学参数信息传输到色彩分析仪。 |
地址 |
611731 四川省成都市高新区(西区)科新西街168号 |