发明名称 一浮动闸极记忆胞之程式化及清除的结构及其制造方法
摘要 一浮动闸极记忆胞(10)具有一浮动闸极,其中有两层浮动闸极层(18、22)。顶层(22)会被蚀刻以于该顶层(22)中提供一轮廓,同时保持下层(18)不变。控制闸极(38)会遵循浮动闸极(22)的轮廓,以提高其间的电容。浮动闸极的该等双层(18、22)可利用一超薄的蚀刻阻止层(20)来进行多晶矽隔离。此蚀刻阻止层(20)厚到足以于多晶矽蚀刻期间提供蚀刻阻止效果,但较佳的系,却有薄到足以达到电透通效果。电子能够轻易地于该等双层(22、18)间移动。因此,对顶层(22)所进行的蚀刻并不会延伸到下层(18)之中,而第一层(18)与第二层(22)则具有可让一浮动闸极成为连续导电层的目的之电效应。
申请公布号 TWI412085 申请公布日期 2013.10.11
申请号 TW094129708 申请日期 2005.08.30
申请人 飞思卡尔半导体公司 美国 发明人 高里珊卡L 琴戴罗尔;克雷格T 史威特
分类号 H01L21/336 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 美国