发明名称 Integrierte Testschaltungsanordnung und Testverfahren
摘要 Integrierte Test-Schaltungsanordnung (10), mit integrierten Teststrukturen (80 bis 86), und mit mindestens einem der folgenden Elemente oder Einheiten: einer integrierten Erfassungseinheit (102, 42), die für die Teststrukturen (80 bis 86) jeweils mindestens eine physikalische Eigenschaft erfasst, wobei die Erfassungseinheit mindestens eine Multiplexereinheit (102) enthält, deren Eingänge mit jeweils einer Teststruktur (80 bis 86) elektrisch verbunden sind, und/oder einer integrierten Versorgungseinheit, die die Teststrukturen unabhängig voneinander schaltbar versorgt und jeweils unabhängig voneinander mit einem Strom oder einer Spannung speist.
申请公布号 DE10245152(B4) 申请公布日期 2013.10.10
申请号 DE2002145152 申请日期 2002.09.27
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 GLASOW, ALEXANDER VON;FISCHER, ARMIN, DR.
分类号 G01R31/28;G01R31/26;H01L23/34;H01L23/544 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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