| 发明名称 |
一种表征类病毒颗粒及其聚集体大小的方法 |
| 摘要 |
本发明涉及类病毒颗粒结构表征领域，具体地，涉及一种采用非对称垂直流场流分级技术对类病毒颗粒及其聚集体结构进行表征的方法。该方法包括如下步骤：(1)使用非对称垂直流场流分级标定不同粒径的标准颗粒的保留时间，并建立线形标准曲线；(2)将不同溶液体系或反应条件下的类病毒颗粒使用非对称垂直流场流分级进行表征，得到类病毒颗粒及其聚集体的保留时间；(3)通过标准曲线计算类病毒颗粒及其聚集体的水力学半径；(4)根据类病毒颗粒及其聚集体的水力学半径计算结果表征其结构。本发明表征方法稳定，重现性好，适于不同类病毒颗粒及其聚集体的结构表征。 |
| 申请公布号 |
CN103344529A |
申请公布日期 |
2013.10.09 |
| 申请号 |
CN201310240184.4 |
申请日期 |
2013.06.18 |
| 申请人 |
中国科学院过程工程研究所 |
发明人 |
张焱;罗坚;苏志国;陈毅 |
| 分类号 |
G01N15/00(2006.01)I;G01N15/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/00(2006.01)I |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
一种采用非对称垂直流场流分级技术表征类病毒颗粒及其聚集体结构的方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)使用非对称垂直流场流分级标定不同粒径的标准颗粒的保留时间，并建立线形标准曲线；(2)将不同溶液体系或反应条件下的类病毒颗粒使用非对称垂直流场流分级进行表征，得到类病毒颗粒及其聚集体的保留时间；(3)通过标准曲线计算类病毒颗粒及其聚集体的水力学半径；(4)根据类病毒颗粒及其聚集体的水力学半径计算结果表征其结构。 |
| 地址 |
100190 北京市海淀区中关村北二条1号 |
