发明名称 一种交直流过流检测电路
摘要 本发明公开了一种交直流过流检测电路,由第一光电耦合器(U1)、第二光电耦合器(U2)、采样电阻(R1)、限流电阻(R2)、上拉电阻(R3)、系统输入1(IN1)、系统输入2(IN2)和系统输出(OUT)构成;由采样电阻(R1)测量电流,采样电阻(R1)和限流电阻(R2)设定过流检测门限,第一光电耦合器(U1)、第二光电耦合器(U2)和上拉电阻(R3)进行信号变换,输出过流信号;本发明结构简单,成本低廉,同时适用于交流电路和直流电路中的过流检测,并且可用于高电位的过流检测。
申请公布号 CN103336165A 申请公布日期 2013.10.02
申请号 CN201310255305.2 申请日期 2013.06.25
申请人 西安电子科技大学 发明人 李平;邵明绪;张庞源;刘淑芳;王新怀;史小卫
分类号 G01R19/00(2006.01)I;H02H3/08(2006.01)I 主分类号 G01R19/00(2006.01)I
代理机构 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 代理人 张培勋
主权项 一种交直流过流检测电路,其特征在于包括:第一光电耦合器(U1)、第二光电耦合器(U2)、采样电阻(R1)、限流电阻(R2)、上拉电阻(R3)、系统输入1(IN1)、系统输入2(IN2)和系统输出(OUT);其中采样电阻(R1)的一端与系统输入1(IN1)连接,同时与限流电阻(R2)的一端连接,采样电阻(R1)的另一端与系统输入2(IN2)连接,同时分别与第一光电耦合器(U1)内部二极管的阴极和第二光电耦合器(U2)内部二极管的阳极连接;限流电阻(R2)的另一端分别与第一光电耦合器(U1)内部二极管的阳极和第二光电耦合器(U2)内部二极管的阴极连接;第一光电耦合器(U1)和第二光电耦合器(U2)内部光电三极管的发射极均与地(GND)连接;第一光电耦合器(U1)和第二光电耦合器(U2)内部光电三极管的集电极与上拉电阻(R3)的一端连接,同时连接系统输出(OUT);上拉电阻(R3)的另一端连接电源(VCC)。
地址 710071 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学