发明名称 |
一种交直流过流检测电路 |
摘要 |
本发明公开了一种交直流过流检测电路,由第一光电耦合器(U1)、第二光电耦合器(U2)、采样电阻(R1)、限流电阻(R2)、上拉电阻(R3)、系统输入1(IN1)、系统输入2(IN2)和系统输出(OUT)构成;由采样电阻(R1)测量电流,采样电阻(R1)和限流电阻(R2)设定过流检测门限,第一光电耦合器(U1)、第二光电耦合器(U2)和上拉电阻(R3)进行信号变换,输出过流信号;本发明结构简单,成本低廉,同时适用于交流电路和直流电路中的过流检测,并且可用于高电位的过流检测。 |
申请公布号 |
CN103336165A |
申请公布日期 |
2013.10.02 |
申请号 |
CN201310255305.2 |
申请日期 |
2013.06.25 |
申请人 |
西安电子科技大学 |
发明人 |
李平;邵明绪;张庞源;刘淑芳;王新怀;史小卫 |
分类号 |
G01R19/00(2006.01)I;H02H3/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01R19/00(2006.01)I |
代理机构 |
西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 |
代理人 |
张培勋 |
主权项 |
一种交直流过流检测电路,其特征在于包括:第一光电耦合器(U1)、第二光电耦合器(U2)、采样电阻(R1)、限流电阻(R2)、上拉电阻(R3)、系统输入1(IN1)、系统输入2(IN2)和系统输出(OUT);其中采样电阻(R1)的一端与系统输入1(IN1)连接,同时与限流电阻(R2)的一端连接,采样电阻(R1)的另一端与系统输入2(IN2)连接,同时分别与第一光电耦合器(U1)内部二极管的阴极和第二光电耦合器(U2)内部二极管的阳极连接;限流电阻(R2)的另一端分别与第一光电耦合器(U1)内部二极管的阳极和第二光电耦合器(U2)内部二极管的阴极连接;第一光电耦合器(U1)和第二光电耦合器(U2)内部光电三极管的发射极均与地(GND)连接;第一光电耦合器(U1)和第二光电耦合器(U2)内部光电三极管的集电极与上拉电阻(R3)的一端连接,同时连接系统输出(OUT);上拉电阻(R3)的另一端连接电源(VCC)。 |
地址 |
710071 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学 |