发明名称 一种星敏感器镜头的抗辐照指标测试方法
摘要 本发明公开了一种星敏感器镜头的抗辐照指标测试方法,在标准剂量场中对显色薄膜剂量计进行剂量刻度标定,将光密度转换为吸收剂量值;将星敏感器镜头材料制成一对楔形光学模体,将该对光学模体斜面相对放置,并在两光学模体斜面之间设置经剂量刻度标定的显色薄膜剂量计;建立显色薄膜剂量计长度和光学模体深度的换算关系,得到电子束在光学模体中的深度剂量分布曲线;使用电子加速器对光学模体辐照至规定的累积剂量,用分光光度计测量显色薄膜剂量计的光密度变化值,获得星敏感器镜头的剂量分布曲线;测量星敏感器镜头厚度,在剂量分布曲线上查询得到星敏感镜头厚度对应的抗辐照指标。本发明能够对星敏感器镜头进行抗辐照指标的地面辐照测试。
申请公布号 CN103335663A 申请公布日期 2013.10.02
申请号 CN201310267808.1 申请日期 2013.06.28
申请人 上海新跃仪表厂 发明人 梁珣;于朝霞
分类号 G01C25/00(2006.01)I 主分类号 G01C25/00(2006.01)I
代理机构 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人 张静洁;包姝晴
主权项 一种星敏感器镜头的抗辐照指标测试方法,其特征在于,包含以下步骤:步骤1,在标准剂量场中对显色薄膜剂量计(2)进行剂量刻度标定,通过分光光度计测量辐照剂量与光密度变化值之间的线性关系,从而将光密度转换为吸收剂量值;步骤2,将星敏感器镜头材料制成一对楔形光学模体(1),其截面为直角三角形,将该对光学模体斜面相对放置,并在两光学模体(1)斜面之间设置经剂量刻度标定的显色薄膜剂量计(2);步骤3,光学模体(1)深度为其截面直角三角形的直角边长,显色薄膜剂量计(2)长度与光学模体(1)的截面直角三角形斜边长相等,利用直角三角形三边关系,建立显色薄膜剂量计(2)长度与光学模体(1)深度之间的正切关系,将剂量沿显色薄膜剂量计(2)长度的变化转换为剂量沿光学模体深度的变化,从而得到电子束在光学模体(1)中的深度剂量分布曲线;  步骤4,使用电子加速器对光学模体(1)辐照至规定的累积剂量,用分光光度计测量显色薄膜剂量计(2)的光密度变化值,获得星敏感器镜头的剂量分布曲线;步骤5,测量星敏感器镜头厚度,在剂量分布曲线上查询得到星敏感镜头厚度对应的抗辐照指标。
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