发明名称 用于增进通道载子移动性之具有高应力衬料之基于Si-Ge的半导体装置
摘要 藉由采用应力衬料增加在Si-Ge装置之电晶体通道区内之载子移动性,于实施例中包括在松弛源极/汲极区上运用高压缩或拉伸应力膜,并且在其他实施例中包括于移除矽化物间隔件后,在P-通道或N-通道电晶体之闸极电极(72)与应变矽源极/汲极区(71)之上方,各别地运用高压缩(90)或高拉伸应力膜(120)。
申请公布号 TWI411100 申请公布日期 2013.10.01
申请号 TW094114208 申请日期 2005.05.03
申请人 高级微装置公司 美国 发明人 孙诗平;布朗 大卫E
分类号 H01L27/085 主分类号 H01L27/085
代理机构 代理人 洪武雄 台北市中正区博爱路35号9楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路35号9楼
主权项
地址 美国
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