发明名称 |
用于增进通道载子移动性之具有高应力衬料之基于Si-Ge的半导体装置 |
摘要 |
藉由采用应力衬料增加在Si-Ge装置之电晶体通道区内之载子移动性,于实施例中包括在松弛源极/汲极区上运用高压缩或拉伸应力膜,并且在其他实施例中包括于移除矽化物间隔件后,在P-通道或N-通道电晶体之闸极电极(72)与应变矽源极/汲极区(71)之上方,各别地运用高压缩(90)或高拉伸应力膜(120)。 |
申请公布号 |
TWI411100 |
申请公布日期 |
2013.10.01 |
申请号 |
TW094114208 |
申请日期 |
2005.05.03 |
申请人 |
高级微装置公司 美国 |
发明人 |
孙诗平;布朗 大卫E |
分类号 |
H01L27/085 |
主分类号 |
H01L27/085 |
代理机构 |
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代理人 |
洪武雄 台北市中正区博爱路35号9楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路35号9楼 |
主权项 |
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地址 |
美国 |