发明名称 PATTERN FORMING METHOD AND ACTINIC-RAY- OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION
摘要 <p>본 발명의 목적은 한계 해상력, 러프니스 특성, 노광 래티튜드(EL) 및 브리지 결함 특성이 우수한 패턴 형성 방법 및 감활성광선성 또는 감방사선성 수지 조성물을 제공한다. 패턴 형성 방법은 (1) 감활성광선성 또는 감방사선성 수지 조성물을 막으로 형성하는 공정, (2) 상기 막을 노광하는 공정, 및 (3) 유기 용제를 함유하는 현상액으로 상기 노광된 막을 현상하는 공정을 포함한다. 상기 감활성광선성 또는 감방사선성 수지 조성물은 (A) 활성광선 또는 방사선에 노광시에 분해되어 산을 발생하는 구조부를 갖는 반복단위를 함유하는 수지, 및 (B) 용제를 함유한다.</p>
申请公布号 KR20130106270(A) 申请公布日期 2013.09.27
申请号 KR20127030606 申请日期 2011.05.20
申请人 FUJIFILM CORPORATION 发明人 IWATO KAORU;TAKAHASHI HIDENORI;HIRANO SHUJI;KAMIMURA SOU;KATO KEITA
分类号 G03F7/26;G03F7/004;G03F7/038;H01L21/027 主分类号 G03F7/26
代理机构 代理人
主权项
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