发明名称 |
半导体装置及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种可微细化的半导体装置及其制造方法。本发明的半导体装置具备:第1导电型的第1半导体层;第2导电型的基极层,被设置在所述第1半导体层上;第1导电型的第2半导体层,被设置在所述基极层上;多个栅电极,栅电极的上端比所述基极层的上表面位于上方,栅电极的下端比所述基极层的下表面位于下方,隔着栅极绝缘膜与所述第1半导体、所述第2半导体层及所述基极层接触;绝缘部件,被配置在所述栅电极上,所述绝缘部件的上表面比所述第2半导体层的上表面位于下方;以及导电膜,在所述栅电极之间,与所述栅电极相隔规定的距离,将所述第2半导体层的从上端至下端、以及所述第2半导体层及所述绝缘部件的上端覆盖。 |
申请公布号 |
CN103325829A |
申请公布日期 |
2013.09.25 |
申请号 |
CN201210315961.2 |
申请日期 |
2012.08.30 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
西胁达也;大田刚志;安原纪夫;新井雅俊;河野孝弘 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
陈萍 |
主权项 |
一种半导体装置,具备:第1导电型的第1半导体层;第2半导体层,设置在所述第1半导体层上,为第1导电型,有效杂质浓度比所述第1半导体层的有效杂质浓度低;第2导电型的基极层,设置在所述第2半导体层上;第1导电型的第3半导体层,设置在所述基极层上;多个栅电极,上端位于所述基极层的上表面的上方,下端位于所述基极层的下表面的下方,隔着栅极绝缘膜与所述第2半导体层、所述基极层及所述第3半导体层相接;绝缘部件,配置在所述栅电极上,上表面位于所述第3半导体层的上表面的下方;导电膜,在所述栅电极之间,与所述栅电极相隔规定的距离,将所述第3半导体层的从上端至下端、以及所述第3半导体层及所述绝缘部件的上端覆盖;场板电极,在所述栅电极的下方,隔着所述栅极绝缘膜设置;以及基极接触层,在所述第3半导体层与所述基极层的边界,与所述导电膜相接地设置,所述基极接触层的有效杂质浓度比所述基极层的有效杂质浓度高。 |
地址 |
日本东京都 |