发明名称 一种天线距离向加权比值测高方法及装置
摘要 本发明公开了一种天线距离向加权比值测高方法,包括:利用相控阵单天线分时获取同一场景的两幅图像;确定所述两幅图像的像素比,作为分时天线的距离向加权函数的比;利用所述距离向加权函数的比确定目标视角,根据所述目标视角确定目标高度。本发明还同时公开了一种天线距离向加权比值测高装置,采用本发明,能够以较低的计算量实现对目标物的高度的测量,保证了测高精度,避免了测高精度与配准精度、相位模糊与测高精度冲突的问题。
申请公布号 CN103323835A 申请公布日期 2013.09.25
申请号 CN201310076743.2 申请日期 2013.03.11
申请人 中国科学院电子学研究所 发明人 冯锦;许丽颖;陈永强;张圆圆;王宇;赵凤军
分类号 G01S13/06(2006.01)I 主分类号 G01S13/06(2006.01)I
代理机构 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 代理人 张振伟;王黎延
主权项 一种天线距离向加权比值测高方法,其特征在于,该方法包括:利用相控阵单天线分时获取同一场景的两幅图像;确定所述两幅图像的像素比,作为分时天线的距离向加权函数的比;利用所述距离向加权函数的比确定目标视角,根据所述目标视角确定目标高度。
地址 100190 北京市海淀区北四环西路19号
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