| 发明名称 | 测试头移动装置及电子元件测试装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种测试头移动装置(10)，包括使测试头(100)升降的升降臂(15)、使测试头(100)在水平方向上移动的框架(11)和根据测试头(100)的高度禁止框架(11)的水平移动的连锁机构(20)，连锁机构(20)具有检测出测试头(100)位于最低限的限制开关(23)和可使按压单元(50)抵接于地面的制动装置(30)。 | ||
| 申请公布号 | CN102066962B | 申请公布日期 | 2013.09.11 |
| 申请号 | CN200880129912.1 | 申请日期 | 2008.07.14 |
| 申请人 | 株式会社爱德万测试 | 发明人 | 矢野刚之 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人 | 高占元 |
| 主权项 | 一种测试头移动装置，是为了在电子元件测试装置中将测试头连接到电子元件处理装置而使所述测试头移动的测试头移动装置，其特征在于，包括：使所述测试头升降的升降单元、使所述测试头在水平方向上移动的水平移动单元，以及根据所述测试头的高度禁止所述水平移动单元的水平移动的禁止单元。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||