发明名称 |
熔断件安秒特性测试仪 |
摘要 |
本发明涉及一种熔断件安秒特性测试仪,其特征在于:它包括微机控制单元(1)、恒流输出单元(2)、供电单元(3)、待测样品安装单元(4)和计时单元(5);微机控制单元(1)分别与恒流输出单元(2)和计时单元(5)电连接,计时单元(5)与恒流输出单元(2)电连接,恒流输出单元(2)与待测样品安装单元(4)电连接;供电单元(3)与微机控制单元(1)的电源输入端电连接,供电单元(3)与恒流输出单元(2)的电源输入端电连接。本发明提供了一种方便携带并且检测精度能够满足常规检测的精度要求的熔断件安秒特性测试仪。 |
申请公布号 |
CN102426322B |
申请公布日期 |
2013.09.11 |
申请号 |
CN201110339431.7 |
申请日期 |
2011.11.01 |
申请人 |
新泰市供电公司 |
发明人 |
刘昊;李延祥;张召虎 |
分类号 |
G01R31/07(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/07(2006.01)I |
代理机构 |
宁波市鄞州甬致专利代理事务所(普通合伙) 33228 |
代理人 |
李迎春 |
主权项 |
一种熔断件安秒特性测试仪,其特征在于:它包括微机控制单元(1)、恒流输出单元(2)、供电单元(3)、待测样品安装单元(4)和计时单元(5);微机控制单元(1)分别与恒流输出单元(2)和计时单元(5)电连接,计时单元(5)与恒流输出单元(2)电连接,恒流输出单元(2)与待测样品安装单元(4)电连接;供电单元(3)与微机控制单元(1)的电源输入端电连接,供电单元(3)与恒流输出单元(2)的电源输入端电连接;所述的微机控制单元(1)包括主芯片为ATmega128型的单片机和触控屏,ATmega128型单片机的PD6引脚与恒流 输出单元(2)的控制板上的TX端相连,ATmega128型单片机的PD7引脚与恒流输出单元(2) 的控制板上的RX端相连;ATmega128型单片机的PD2引脚与触控屏的TX端相连,ATmega128型单片机的PD3引脚与触控屏的RX端相连;ATmega128型单片机的XTAL1引脚与计时单元(5)的控制板上的TX端相连,ATmega128型单片机的XTAL2引脚与计时单元(5)的控制板上的RX端相连。 |
地址 |
271200 山东省泰安市新泰市青龙路177号 |