发明名称 一种半导体装置
摘要 本发明公开了一种适用于相当高的电压施加的半导体装置,包括:一衬底;一第一N型阱区域,位于衬底中,用以作为供半导体装置用的一高电压n阱;一对第二N型阱区域,位于第一N型阱区域中;一P型区域,位于此对第二N型阱区域之间的第一N型阱区域中;一对导电区域,位于此对第二N型阱区域之间的衬底上;以及多个N型区域,用以作为供半导体装置用的N型埋入层(NBL),其中NBL位于第一N型区域的下方并被分散在衬底中。
申请公布号 CN102280477B 申请公布日期 2013.09.11
申请号 CN201010202456.8 申请日期 2010.06.09
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 黄学义;李明东;吴锡垣
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/36(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 周国城
主权项 一种适用于相当高的电压施加的半导体装置,其特征在于,包括:一衬底;一第一N型阱区域,位于该衬底中,用以作为供该半导体装置用的一高电压n阱HVNW;一对第二N型阱区域,位于该第一N型阱区域中;一P型区域,位于该对第二N型阱区域之间的该第一N型阱区域中;一对导电区域,位于该对第二N型阱区域之间的该衬底上;以及多个N型区域,用以作为供该半导体装置用的多个N型埋入层NBL,其中该多个NBL位于该第一N型阱区域的下方并被分散在该衬底中;其中,该多个NBL包括:多个第一NBL,位于该P型区域之下;多个第二NBL,位于在该P型区域与各该第二N型阱区域之间的一区域之下;以及多个第三NBL,位于该第一N型阱区域的该周边与各该第二N型阱区域之间的一区域之下。
地址 中国台湾新竹科学工业园区力行路16号