存储器的测试电路及方法

摘要

本申请公开了一种存储器的测试电路及方法，测试信号写入被测存储列后，执行器读取被测存储列中的数据，在读取操作中，引入单元将反映被测存储列上电流大小的电压信号引入振荡环，振荡环的工作频率会受被测存储列上电流大小影响，通过读取振荡环的实际频率即可进行故障判断，从而确定被测存储列是否存在固定故障或因存储单元阈值电压VTH漂移所引起的软故障，并可进一步确定故障位置；由于将故障引起的被测存储列上电流大小变化转换为振荡环频率大小的变化，使得测试精度更高。

主权项

一种存储器的测试电路,其特征在于，包括：信号发生器、控制所述信号发生器产生测试信号的控制器、在所述控制器控制下对被测存储阵列进行测试信号写入与写入后的读取操作的执行器、振荡环、将所述读取操作中反映被测存储列上电流大小的电压信号引入振荡环的引入单元，以及获取所述振荡环的实际频率进行故障判断的获取单元。