发明名称 |
乾蚀刻后的洗净液组成物及半导体装置之制造方法 |
摘要 |
本发明之课题在于提供一种不使蚀刻形状改变而可以除去在绝缘膜的乾蚀刻时产生于蚀刻壁面的残渣(特别是高分子残渣)之洗净液组成物。;本发明之解决手段为:提供一种绝缘膜之图案蚀刻之后处理洗净所使用的洗净液组成物,其含有至少1种氟化合物、乙醛酸、至少一种有机酸盐与水。氟化合物使用氟化铵。有机酸盐使用草酸铵、酒石酸铵、柠檬酸铵以及醋酸铵中至少一种。 |
申请公布号 |
TWI407489 |
申请公布日期 |
2013.09.01 |
申请号 |
TW094117900 |
申请日期 |
2005.05.31 |
申请人 |
苏妮股份有限公司 日本;东芝股份有限公司 日本;关东化学股份有限公司 日本 |
发明人 |
村松真文;浅田和已;荻野友纪乃;奥山敦;中嶋崇人;高濑和彦;鱼住宜弘;松村刚;大和田拓央;石川典夫 |
分类号 |
H01L21/027 |
主分类号 |
H01L21/027 |
代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼 |
主权项 |
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地址 |
日本 |