发明名称 | BCH码检纠错方法、电路及容错存储器 | ||
摘要 | 本发明提供一种BCH码检纠错方法、电路及容错存储器。根据本发明的方法,先基于已经过BCH编码的待检验BCH数据组的监督矩阵来计算待检验BCH数据组的待比较校正子;随后,若所述待比较校正子不为0,则将所述待比较校正子与多个标准校正子进行比较,并基于与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据。与BCH码的原纠正能力相比,本发明能更大限度地利用了校验码,提高了纠错能力;且BCH码检纠错电路可由纯逻辑电路构成,不需要时钟,仅存在门延迟,适合应用于SPI接口之类对时序有特别要求的情况。 | ||
申请公布号 | CN103269231A | 申请公布日期 | 2013.08.28 |
申请号 | CN201310224101.2 | 申请日期 | 2013.06.05 |
申请人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明人 | 张怡云;陈后鹏;宋志棠 |
分类号 | H03M13/15(2006.01)I | 主分类号 | H03M13/15(2006.01)I |
代理机构 | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人 | 李仪萍 |
主权项 | 一种BCH码检纠错方法,其特征在于,所述BCH码检纠错方法至少包括:1)基于已经过BCH编码的待检验BCH数据组的监督矩阵来计算所述待检验BCH数据组的待比较校正子;2)若所述待比较校正子不为0,则将所述待比较校正子与多个标准校正子进行比较,并基于与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据。 | ||
地址 | 200050 上海市长宁区长宁路865号 |