发明名称 BCH码检纠错方法、电路及容错存储器
摘要 本发明提供一种BCH码检纠错方法、电路及容错存储器。根据本发明的方法,先基于已经过BCH编码的待检验BCH数据组的监督矩阵来计算待检验BCH数据组的待比较校正子;随后,若所述待比较校正子不为0,则将所述待比较校正子与多个标准校正子进行比较,并基于与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据。与BCH码的原纠正能力相比,本发明能更大限度地利用了校验码,提高了纠错能力;且BCH码检纠错电路可由纯逻辑电路构成,不需要时钟,仅存在门延迟,适合应用于SPI接口之类对时序有特别要求的情况。
申请公布号 CN103269231A 申请公布日期 2013.08.28
申请号 CN201310224101.2 申请日期 2013.06.05
申请人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明人 张怡云;陈后鹏;宋志棠
分类号 H03M13/15(2006.01)I 主分类号 H03M13/15(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 李仪萍
主权项 一种BCH码检纠错方法,其特征在于,所述BCH码检纠错方法至少包括:1)基于已经过BCH编码的待检验BCH数据组的监督矩阵来计算所述待检验BCH数据组的待比较校正子;2)若所述待比较校正子不为0,则将所述待比较校正子与多个标准校正子进行比较,并基于与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据。
地址 200050 上海市长宁区长宁路865号