发明名称 | 垂直照明暗场显微镜 | ||
摘要 | 本发明给出了一种垂直照明的暗场显微系统。该显微镜包含:照明光源及准直光学系统,用于会聚入射光的长工作距离聚光镜,用于反射所会聚入射光束的小尺寸平面反射镜及镜架,用于收集散射光的大数值孔径长工作距离物镜,用于对所收集散射信号进行成像的光学系统以及成像CCD。现有的倾斜照明暗场显微镜具有一个严重问题:在观察暗场信号或者进行光谱分析时,所得结果容易受到衬底的影响。本发明垂直照明暗场显微镜可以解决这个问题,获得单纯由结构、瑕疵和边界等产生的信号。此为,本发明同时具有透射和反射两种工作方式,在对于微纳米结构进行分析时可以提供更多的信息。 | ||
申请公布号 | CN103268009A | 申请公布日期 | 2013.08.28 |
申请号 | CN201310224827.6 | 申请日期 | 2013.06.07 |
申请人 | 北京师范大学 | 发明人 | 石锦卫;李晓勤;刘大禾;郑如强 |
分类号 | G02B21/10(2006.01)I | 主分类号 | G02B21/10(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种垂直照明的暗场显微镜,其部件包括:照明光源及准直光学系统,长工作距离聚光镜用于会聚入射光,用于反射所会聚入射光束的小尺寸平面反射镜及镜架,用于收集散射光的大数值孔径长工作距离物镜,用于对所收集散射信号进行成像的光学系统以及成像CCD。 | ||
地址 | 100875 北京市海淀区新街口外大街19号 |