发明名称 高精度日照传感器及其测量方法
摘要 本发明涉及一种高精度日照传感器及其测量方法,其包括同轴安装的第一光电管、第二光电管及第三光电管;遮光筒上设有上部入射窗及下部入射窗;所述上部入射窗均匀对称地分布于遮光筒的上部,下部入射窗均匀对称地分布于遮光筒的下部,上部入射窗包含的窗口数量与下部入射窗包含的窗口数量一致,上部入射窗内的窗口与下部入射窗内的窗口在遮光筒上交错分布,以使得第二光电管通过上部入射窗接收到的散射辐射与第三光电管通过下部入射窗接收到的散射辐射均匀一致。本发明能够有效地改善对太阳直接辐射的测量准确性,从而提高日照时数的测量精度,尤其是能较大程度的改善多云和半阴天气象条件下的日照时数测量精度,适应范围广,安全可靠。
申请公布号 CN103257374A 申请公布日期 2013.08.21
申请号 CN201310186384.6 申请日期 2013.05.17
申请人 江苏省无线电科学研究所有限公司 发明人 徐毅刚;吕文华;朱庆春;边泽强;杨科三
分类号 G01W1/12(2006.01)I 主分类号 G01W1/12(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所 32104 代理人 殷红梅
主权项 一种高精度日照传感器,包括同轴安装的第一光电管(12)、第二光电管(17)及第三光电管(18);第一光电管(12)安装于遮光筒(10)的顶端,第二光电管(17)及第三光电管(18)均位于遮光筒(10)内,第三光电管(18)位于第二光电管(17)的下方;所述遮光筒(10)上设有用于对第二光电管(17)接收并约束入射辐射的上部入射窗(19),且遮光筒(10)上设有用于对第三光电管(18)接收并约束入射辐射的下部入射窗(20);其特征是:所述上部入射窗(19)均匀对称地分布于遮光筒(10)的上部,下部入射窗(20)均匀对称地分布于遮光筒(10)的下部,上部入射窗(19)包含的窗口数量与下部入射窗(20)包含的窗口数量一致,上部入射窗(19)内的窗口与下部入射窗(20)内的窗口在遮光筒(10)上交错分布,以使得第二光电管(17)通过上部入射窗(19)接收到的散射辐射与第三光电管(18)通过下部入射窗(20)接收到的散射辐射均匀一致。
地址 214027 江苏省无锡市滨湖区锦溪路100号