| 发明名称 | 待测光学系统杂散光检测系统 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种待测光学系统杂散光检测系统，包括激光器、平行光管以及探测器；所述激光器、平行光管以及探测器依次设置于同一光轴上。本实用新型提供了一种能够对被测光系统杂散光抑制水平进行客观评价，避免目前采用杂散光系数评价的不确定性的待测光学系统杂散光检测系统。 | ||
| 申请公布号 | CN203132818U | 申请公布日期 | 2013.08.14 |
| 申请号 | CN201320090245.9 | 申请日期 | 2013.02.27 |
| 申请人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明人 | 潘亮;张周锋;赵建科;徐亮;田留德;刘峰 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人 | 姚敏杰 |
| 主权项 | 一种待测光学系统杂散光检测系统，其特征在于：所述待测光学系统杂散光检测系统包括激光器、平行光管以及探测器；所述激光器、平行光管以及探测器依次设置于同一光轴上。 | ||
| 地址 | 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号 | ||