发明名称 镍离子掺杂锗锑碲荧光相变信息存储材料及其制备方法
摘要 一种镍离子掺杂锗锑碲荧光相变信息存储材料及其制备方法,该相变材料的组成为Ge2Sb2Te5:0.1~0.3Ni2+。该材料通过磁控溅射方法,将Ge2Sb2Te5靶和NiO靶共溅到K9玻璃基片上得到非晶态样,而后在纳秒激光的作用下得到晶态样。在980nm激光激发下,晶态样有位于1150nm附近的荧光,非晶态样无荧光,分别代表信息存储的两个状态。本发明荧光相变信息存储材料与传统相变材料的制备过程完全兼容,制备方法简单可控。本发明结合传统相变材料的优点和Ni2+在基质不同相态下荧光效应的巨大差异,可以大大增加相变光存储中两态的对比度。
申请公布号 CN102329619B 申请公布日期 2013.08.14
申请号 CN201110202663.8 申请日期 2011.07.20
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 张科;梁广飞;王阳;吴谊群
分类号 C23C14/35(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I;C09K11/88(2006.01)I 主分类号 C23C14/35(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯
主权项 一种镍离子掺杂锗锑碲荧光相变信息存储材料,其特征在于该材料的组成为Ge2Sb2Te5:0.1~0.3Ni2+,该材料是通过磁控溅射方法将Ge2Sb2Te5靶和NiO靶共溅在K9玻璃基片上的膜层,该膜层的厚度为100~250nm。
地址 201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱
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