发明名称 |
镍离子掺杂锗锑碲荧光相变信息存储材料及其制备方法 |
摘要 |
一种镍离子掺杂锗锑碲荧光相变信息存储材料及其制备方法,该相变材料的组成为Ge2Sb2Te5:0.1~0.3Ni2+。该材料通过磁控溅射方法,将Ge2Sb2Te5靶和NiO靶共溅到K9玻璃基片上得到非晶态样,而后在纳秒激光的作用下得到晶态样。在980nm激光激发下,晶态样有位于1150nm附近的荧光,非晶态样无荧光,分别代表信息存储的两个状态。本发明荧光相变信息存储材料与传统相变材料的制备过程完全兼容,制备方法简单可控。本发明结合传统相变材料的优点和Ni2+在基质不同相态下荧光效应的巨大差异,可以大大增加相变光存储中两态的对比度。 |
申请公布号 |
CN102329619B |
申请公布日期 |
2013.08.14 |
申请号 |
CN201110202663.8 |
申请日期 |
2011.07.20 |
申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
发明人 |
张科;梁广飞;王阳;吴谊群 |
分类号 |
C23C14/35(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I;C09K11/88(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/35(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
张泽纯 |
主权项 |
一种镍离子掺杂锗锑碲荧光相变信息存储材料,其特征在于该材料的组成为Ge2Sb2Te5:0.1~0.3Ni2+,该材料是通过磁控溅射方法将Ge2Sb2Te5靶和NiO靶共溅在K9玻璃基片上的膜层,该膜层的厚度为100~250nm。 |
地址 |
201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱 |