发明名称 电子材料用Cu-Ni-Si-Co系铜合金及其制造方法
摘要 提供强度和导电率的平衡优异、而且下垂卷曲受到抑制的Cu-Ni-Si-Co系合金条。一种铜合金条,其是含有Ni:1.0~2.5质量%、Co:0.5~2.5质量%、Si:0.3~1.2质量%,剩余部分由Cu和不可避免的杂质构成的电子材料用铜合金条,其中,根据以轧制面为基准的X射线衍射极图测定所得的结果,满足下述(a)和(b)两者:(a){200}极图中,α=20°的利用β扫描所得的衍射峰强度中,β角度145°的峰高度相对于标准铜粉末的该峰高度为5.2倍以下;(b){111}极图中,α=75°的利用β扫描所得的衍射峰强度中,β角度185°的峰高度相对于标准铜粉末的该峰高度为3.4倍以上。
申请公布号 CN103249851A 申请公布日期 2013.08.14
申请号 CN201180059363.7 申请日期 2011.11.11
申请人 JX日矿日石金属株式会社 发明人 桑垣宽
分类号 C22C9/06(2006.01)I;B21B3/00(2006.01)I;C22C9/00(2006.01)I;C22C9/01(2006.01)I;C22C9/02(2006.01)I;C22C9/04(2006.01)I;C22C9/05(2006.01)I;C22C9/10(2006.01)I;C22F1/08(2006.01)I;H01B1/02(2006.01)I;H01B5/02(2006.01)I;H01B13/00(2006.01)I;C22F1/00(2006.01)I 主分类号 C22C9/06(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 庞立志;孟慧岚
主权项 一种铜合金条,其是含有Ni:1.0~2.5质量%、Co:0.5~2.5质量%、Si:0.3~1.2质量%,剩余部分由Cu和不可避免的杂质构成的电子材料用铜合金条,其中,根据以轧制面为基准的X射线衍射极图测定所得的结果,满足下述(a)和(b)两者:(a){200}极图中,α=20°的利用β扫描所得的衍射峰强度中,β角度145°的峰高度相对于标准铜粉末的该峰高度为5.2倍以下;(b){111}极图中,α=75°的利用β扫描所得的衍射峰强度中,β角度185°的峰高度相对于标准铜粉末的该峰高度为3.4倍以上。
地址 日本东京都