发明名称 |
电子材料用Cu-Ni-Si-Co系铜合金及其制造方法 |
摘要 |
提供强度和导电率的平衡优异、而且下垂卷曲受到抑制的Cu-Ni-Si-Co系合金条。一种铜合金条,其是含有Ni:1.0~2.5质量%、Co:0.5~2.5质量%、Si:0.3~1.2质量%,剩余部分由Cu和不可避免的杂质构成的电子材料用铜合金条,其中,根据以轧制面为基准的X射线衍射极图测定所得的结果,满足下述(a)和(b)两者:(a){200}极图中,α=20°的利用β扫描所得的衍射峰强度中,β角度145°的峰高度相对于标准铜粉末的该峰高度为5.2倍以下;(b){111}极图中,α=75°的利用β扫描所得的衍射峰强度中,β角度185°的峰高度相对于标准铜粉末的该峰高度为3.4倍以上。 |
申请公布号 |
CN103249851A |
申请公布日期 |
2013.08.14 |
申请号 |
CN201180059363.7 |
申请日期 |
2011.11.11 |
申请人 |
JX日矿日石金属株式会社 |
发明人 |
桑垣宽 |
分类号 |
C22C9/06(2006.01)I;B21B3/00(2006.01)I;C22C9/00(2006.01)I;C22C9/01(2006.01)I;C22C9/02(2006.01)I;C22C9/04(2006.01)I;C22C9/05(2006.01)I;C22C9/10(2006.01)I;C22F1/08(2006.01)I;H01B1/02(2006.01)I;H01B5/02(2006.01)I;H01B13/00(2006.01)I;C22F1/00(2006.01)I |
主分类号 |
C22C9/06(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
庞立志;孟慧岚 |
主权项 |
一种铜合金条,其是含有Ni:1.0~2.5质量%、Co:0.5~2.5质量%、Si:0.3~1.2质量%,剩余部分由Cu和不可避免的杂质构成的电子材料用铜合金条,其中,根据以轧制面为基准的X射线衍射极图测定所得的结果,满足下述(a)和(b)两者:(a){200}极图中,α=20°的利用β扫描所得的衍射峰强度中,β角度145°的峰高度相对于标准铜粉末的该峰高度为5.2倍以下;(b){111}极图中,α=75°的利用β扫描所得的衍射峰强度中,β角度185°的峰高度相对于标准铜粉末的该峰高度为3.4倍以上。 |
地址 |
日本东京都 |