发明名称 |
投影物镜波像差在线检测装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种投影物镜波像差在线检测装置,包括光源(LA)、投影物镜(PO)、参考标记(RP)、探测器(DE)、掩模板(MA)。掩模板(MA)用于将由所述光源(LA)出射的激光转换为两束相干光,该两束相干光经所述投影物镜(PO)后在所述投影物镜(PO)的焦平面处发生干涉,产生干涉条纹;该干涉条纹经过所述参考标记(RP)后照射在所述探测器(DE)上,转化为电信号;根据该电信号的强度得到所述干涉条纹的位置偏移量,再根据偏移量的大小可得到所述投影物镜(PO)的波像差。本实用新型能够测量全部37项Zernike系数,简化了测试流程和波像差计算方法,提高了测量精度。 |
申请公布号 |
CN203133474U |
申请公布日期 |
2013.08.14 |
申请号 |
CN201320059357.8 |
申请日期 |
2013.02.01 |
申请人 |
中国科学院光电研究院 |
发明人 |
刘广义;齐月静;苏佳妮;周翊;王宇 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
宋焰琴 |
主权项 |
一种投影物镜波像差在线检测装置,包括光源(LA)、投影物镜(PO)、参考标记(RP)和探测器(DE),所述光源(LA)用于出射激光,其特征在于: 所述装置还包括掩模板(MA),由所述光源(LA)出射的激光经由该掩模板(MA)后入射到所述投影物镜(PO); 所述掩模板(MA)包括用于形成干涉条纹的测试标记,测试标记构成位相光栅图案; 所述参考标记(RP)设置在所述投影物镜(PO)的焦平面处,构成振幅型光栅图案; 所述探测器(DE)设置在所述光路中参考标记(RP)的后方; 其中,所述掩模板(MA)能够将由所述光源(LA)出射的激光转换为两束相干光,该两束相干光经所述投影物镜(PO)后在所述投影物镜(PO)的焦平面处发生干涉,产生干涉条纹;该干涉条纹经过所述参考标记(RP)后照射在所述探测器(DE)上。 |
地址 |
100094 北京市海淀区邓庄南路9号 |