基于多晶探头的超声检测缺陷信息采集方法

摘要

一种基于多晶探头的超声检测缺陷信息采集方法，它采用具有N个晶片的超声探头对被测对象进行扫查，多个所述的晶片均匀排列，每个所述的晶片具有发射和接收功能，在扫查过程中，控制各晶片的发射和接收状态，以得到探头采样的数据矩阵，通过该数据矩阵以重构缺陷的特征。本发明采用阵列晶片扫查时，形成一个晶片发射多个晶片接收的方式，也即在反射体表面上任意一个点，有多个的测量信息以供该点的重构，最终合成并得到整个反射体重构信息，从而提高了分辨率及灵敏度。

主权项

一种基于多晶探头的超声检测缺陷信息采集方法，其特征在于：它采用具有N个晶片的超声探头对被测对象进行扫查，多个所述的晶片均匀排列，每个所述的晶片具有发射和接收功能，在扫查过程中，控制各晶片的发射和接收状态，以得到探头采样的数据矩阵，通过该数据矩阵以重构缺陷的特征：在扫查过程中，将每个所述的晶片用于发射，依次向被测对象发射超声波，所有的晶片都作为接收晶片接收反射超声信号，以形成所述数据矩阵；在扫查过程中，设定其中一个晶片作为发射晶片，当该晶片向被测对象发射超声波时，所有的晶片都作为接收晶片接收超声信号，以形成所述数据矩阵，所述超声探头的N个晶片按照线性排列形成线性阵列，改变两晶片的合成孔径以获得稀疏数据矩阵，所述的合成孔径定义为两晶片中心之间的距离。