发明名称 具有单质量块的微机械三轴加速计
摘要 除其它情况之外,本申请讨论了一种惯性测量系统,包括器件层、帽晶片和孔晶片,其中,所述器件层包括单质量块三轴加速计,所述帽晶片粘合到所述器件层的第一表面,所述孔晶片粘合到所述器件层的第二表面,其中,所述帽晶片和所述孔晶片被配置为封装所述单质量块三轴加速计。所述单质量块三轴加速计可围绕单个中心锚悬吊,且包括单独的x轴挠曲支承部、y轴挠曲支承部和z轴挠曲支承部,其中,所述x轴挠曲支承部和所述y轴挠曲支承部关于所述单个中心锚对称,且所述z轴挠曲支承部关于所述单个中心锚不对称。
申请公布号 CN103238075A 申请公布日期 2013.08.07
申请号 CN201180054796.3 申请日期 2011.09.18
申请人 快捷半导体公司 发明人 C·阿卡
分类号 G01P15/18(2013.01)I;G01P15/14(2013.01)I;G01C19/5755(2012.01)I 主分类号 G01P15/18(2013.01)I
代理机构 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 代理人 武晨燕;张颖玲
主权项 一种惯性测量系统,包括:器件层,包含形成在x‑y平面中的单质量块三轴加速计,所述单质量块三轴加速计围绕单个中心锚悬吊,所述单质量块三轴加速计包括单独的x轴挠曲支承部、y轴挠曲支承部和z轴挠曲支承部;其中,所述x轴挠曲支承部和所述y轴挠曲支承部关于所述单个中心锚对称,所述z轴挠曲部关于所述单个中心锚不对称;帽晶片,粘合到所述器件层的第一表面;以及孔晶片,粘合到所述器件层的第二表面,其中,所述帽晶片和所述孔晶片被配置为封装所述单质量块三轴加速计。
地址 美国加利福尼亚州