发明名称 |
结构缺陷的成像方法、结构缺陷的成像装置、气泡或损害部位的成像方法以及气泡或损害部位的成像装置 |
摘要 |
本发明提供具有高的频率分辨率和空间分辨率的、能够提高闭合裂纹与张口裂纹的识别性的结构缺陷的成像方法和结构缺陷的成像装置。另外,本发明还提供具有高频率分辨率和高空间分辨率的、能够提高组织与气泡或损害部位的识别性的气泡或损害部位的成像方法以及气泡或损害部位的成像装置。对于超声波发射器和阵列接收器针对缺陷而不同的2个配置,由阵列接收器接收超声波发射器向结构物照射的脉冲超声波在缺陷上产生的散射波来得到接收信号。对该接收信号施加使特定频率成分通过的带通滤波器,并在使其偏移根据阵列接收器的各接收传感元件的位置而不同的时间之后,对其进行相加而得到处理信号。根据该处理信号分别得到缺陷的图像。抽取所获得的两个图像的共同部分。 |
申请公布号 |
CN102099675B |
申请公布日期 |
2013.07.31 |
申请号 |
CN200980128195.5 |
申请日期 |
2009.05.19 |
申请人 |
国立大学法人东北大学 |
发明人 |
山中一司;小原良和;新宅洋平 |
分类号 |
G01N29/44(2006.01)I;A61B8/00(2006.01)I;G01B17/06(2006.01)I |
主分类号 |
G01N29/44(2006.01)I |
代理机构 |
北京市金杜律师事务所 11256 |
代理人 |
王茂华;于英慧 |
主权项 |
一种结构缺陷的成像方法,用于检测结构物中包含的象裂纹那样的缺陷,其特征在于,具有:照射由预定循环数的正弦波构成的脉冲超声波的超声波发射器;和具有多个接收传感元件的阵列接收器,上述成像方法具有:第一接收步骤,在针对上述缺陷而在预定位置配置有上述超声波发射器和上述阵列接收器的第一配置中,用上述阵列接收器接收上述超声波发射器向上述结构物照射的上述脉冲超声波在上述缺陷上产生的散射波来得到第一接收信号;第一成像步骤,对上述第一接收信号施加使特定频率成分通过的带通滤波器,并在使其偏移根据上述阵列接收器的各接收传感元件的位置而不同的时间之后,对其进行相加而得到第一处理信号,且根据所获得的上述第一处理信号得到上述缺陷的第一图像;第二接收步骤,在上述超声波发射器和上述阵列接收器中至少一方的位置针对上述缺陷而不同的第二配置中,用上述阵列接收器接收上述超声波发射器向上述结构物照射的上述脉冲超声波在上述缺陷上产生的散射波来得到第二接收信号;第二成像步骤,对上述第二接收信号施加上述带通滤波器,并在使其偏移根据上述阵列接收器的各接收传感元件的位置而不同的时间之后,对其进行相加而得到第二处理信号,且根据所获得的上述第二处理信号得到上述缺陷的第二图像;以及抽取步骤,抽取上述第一图像和上述第二图像的共同部分。 |
地址 |
日本宫城县 |