发明名称 |
OLED面板封装效果的检测方法 |
摘要 |
本发明提供一种OLED面板封装效果的检测方法,包括:步骤1、在OLED元件制程中,于基板上形成一测试块,所述测试块由活泼金属制成,然后形成数条测试电极,每一测试电极一端连接测试块,另一端向外延伸,用于连接测量装置;步骤2、进行OLED面板封装,所述测试电极另一端伸出密封胶框;步骤3、将测量装置与测试电极电性连接,测量所述测试块的实际导电率;步骤4、根据实际导电率判断封装效果。本发明的OLED面板封装效果的检测方法,利用由活泼金属形成的测试块在不同水氧含量的环境下的导电率差异,较为精确的检测OLED面板封装后的水氧含量,进而准确的判断封装效果。 |
申请公布号 |
CN103217459A |
申请公布日期 |
2013.07.24 |
申请号 |
CN201310163325.7 |
申请日期 |
2013.05.06 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
曾维静 |
分类号 |
G01N27/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N27/04(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市德力知识产权代理事务所 44265 |
代理人 |
林才桂 |
主权项 |
一种OLED面板封装效果的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、在OLED元件制程中,于基板上形成一测试块,所述测试块由活泼金属制成,然后形成数条测试电极,每一测试电极一端连接测试块,另一端向外延伸,用于连接测量装置;步骤2、进行OLED面板封装,所述测试电极另一端伸出密封胶框;步骤3、将测量装置与测试电极电性连接,测量所述测试块的实际导电率;步骤4、根据实际导电率判断封装效果。 |
地址 |
518000 广东省深圳市光明新区塘明大道9—2号 |