发明名称 一种用于微光探测的光学耦合系统
摘要 本发明涉及一种用于微光探测的光学耦合系统,包括沿光路依次设置的像增强器、大孔径成像镜以及探测器,大孔成像镜包括接收组、成像组以及光阑,光阑连接接收组和成像组,接收组包括依次设置的前组单透镜一、前组胶合一、前组胶合二、前组单透镜二,所述成像组包括依次设置的后组单透镜一、后组胶合一、后组胶合二以及后组单透镜二。本发明为了解决传统的中继镜耦合系统效率低、不利用定量分析的技术问题,本发明主要为了实现像增强器和成像探测器之间的非接触式图像传输的功能。
申请公布号 CN103207446A 申请公布日期 2013.07.17
申请号 CN201310143334.X 申请日期 2013.04.23
申请人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明人 孙鑫;胡炳樑;邹纯博;李勇;王乐;白清兰
分类号 G02B13/16(2006.01)I;G02B27/00(2006.01)I 主分类号 G02B13/16(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 张倩
主权项 一种用于微光探测的光学耦合系统,其特征在于:包括沿光路依次设置的像增强器(2)、大孔径成像镜(3)以及探测器(6),所述大孔成像镜(3)包括接收组(4)、成像组(5)以及光阑,所述光阑连接接收组(4)和成像组(5),所述接收组(4)包括依次设置的前组单透镜一(42)、前组胶合一(43)、前组胶合二(44)、前组单透镜二(45),所述成像组(5)包括依次设置的后组单透镜一(56)、后组胶合一(57)、后组胶合二(58)以及后组单透镜二(59)。
地址 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号