半导体三极管参数测试仪

摘要

本实用新型公开了一种半导体三极管参数测试仪，包括测试电路、采样电路、单片机和显示装置；所述测试电路与被测三极管和采样电路相连接，用于测试三极管的各种参数并将所得的参数值传送给采样电路；采样电路与单片机相连接，用于获取测试电路所测得的参数值，并对参数值进行采样处理后传送给单片机；单片机上还连接有所述显示装置，所述显示装置用于显示单片机所传送的三极管参数。本实用新型的半导体三极管参数测试仪，具有可测量精度高、测量方法简单、智能化程度高等优点。

主权项

半导体三极管参数测试仪，其特征是，包括测试电路、采样电路、单片机和显示装置；所述测试电路与被测三极管和采样电路相连接，用于测试三极管的各种参数并将所得的参数值传送给采样电路；采样电路与单片机相连接，用于获取测试电路所测得的参数值，并对参数值进行采样处理后传送给单片机；单片机上还连接有所述显示装置，所述显示装置用于显示单片机所传送的三极管参数。