摘要 |
Verfahren zur optischen Prüfung eines Prüfobjekts (O) mit folgenden Verfahrensschritten:–Erfassung eines Prüfbilds (PB) zumindest von einem Prüfbereich eines zu prüfenden Prüfobjekts (O),–Ermittlung und/oder Festlegung einer Prüfstrecke (PS) innerhalb des Prüfbilds (PB),–Ermitteln von Prüfparameterwerten (PPW) für entlang der Prüfstrecke (PS) definierte Prüfzellen (PZ), welche jeweils eine Anzahl von Bildpunkten umfassen,–Detektieren von Abweichungen von vorgegebenen Referenzwerten auf Basis der Prüfparameterwerte (PPW) der Prüfzellen (PZ), dadurch gekennzeichnet, dass die Prüfzellen (PZ) jeweils im Wesentlichen eine Kreisform oder eine einen Kreis annähernde konvexe Polygonform mit mindestens fünf Ecken aufweisen.
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