发明名称 Verfahren und Prüfsystem zur optischen Prüfung eines Prüfobjekts
摘要 Verfahren zur optischen Prüfung eines Prüfobjekts (O) mit folgenden Verfahrensschritten:–Erfassung eines Prüfbilds (PB) zumindest von einem Prüfbereich eines zu prüfenden Prüfobjekts (O),–Ermittlung und/oder Festlegung einer Prüfstrecke (PS) innerhalb des Prüfbilds (PB),–Ermitteln von Prüfparameterwerten (PPW) für entlang der Prüfstrecke (PS) definierte Prüfzellen (PZ), welche jeweils eine Anzahl von Bildpunkten umfassen,–Detektieren von Abweichungen von vorgegebenen Referenzwerten auf Basis der Prüfparameterwerte (PPW) der Prüfzellen (PZ), dadurch gekennzeichnet, dass die Prüfzellen (PZ) jeweils im Wesentlichen eine Kreisform oder eine einen Kreis annähernde konvexe Polygonform mit mindestens fünf Ecken aufweisen.
申请公布号 DE102008049858(B4) 申请公布日期 2013.07.11
申请号 DE20081049858 申请日期 2008.10.01
申请人 PANASONIC ELECTRIC WORKS EUROPE AG 发明人 ESSER, ANDREAS, DIPL.-ING. (FH);OSTERMAIER, PHILIPP
分类号 G01B11/24;G06K9/46 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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