发明名称 | InSb晶片与Si晶片键合的方法 | ||
摘要 | 本发明提供了一种InSb晶片与Si晶片键合的方法。该方法包括:步骤A,将至少单面抛光的InSb晶片和Si晶片在有机溶剂中分别进行高温超声煮洗,而后用去离子水清洗;步骤B,将所述Si晶片置于酸溶液中煮洗,而后用去离子水冲洗;步骤C,将所述Si晶片置于碱溶液中煮洗,而后用去离子水冲洗;步骤E,将InSb晶片和Si晶片各自的抛光面向内进行贴合,而后将贴合后的两晶片置于真空键合机内进行热处理,以完成InSb晶片和Si晶片的键合。本发明InSb晶片与Si晶片键合的方法工艺简单,具有较强的实用性。 | ||
申请公布号 | CN103199156A | 申请公布日期 | 2013.07.10 |
申请号 | CN201310109012.3 | 申请日期 | 2013.03.29 |
申请人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明人 | 彭红玲;郑婉华 |
分类号 | H01L31/18(2006.01)I | 主分类号 | H01L31/18(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 曹玲柱 |
主权项 | 一种InSb晶片与Si晶片键合的方法,其特征在于,包括: 步骤A,将至少单面抛光的InSb晶片和Si晶片在有机溶剂中分别进行高温超声煮洗,而后用去离子水清洗; 步骤B,将所述Si晶片置于酸溶液中煮洗,而后用去离子水冲洗; 步骤C,将所述Si晶片置于碱溶液中煮洗,而后用去离子水冲洗; 步骤E,将InSb晶片和Si晶片各自的抛光面向内进行贴合,而后将贴合后的两晶片置于真空键合机内进行热处理,以完成InSb晶片和Si晶片的键合。 | ||
地址 | 100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |