发明名称 InSb晶片与Si晶片键合的方法
摘要 本发明提供了一种InSb晶片与Si晶片键合的方法。该方法包括:步骤A,将至少单面抛光的InSb晶片和Si晶片在有机溶剂中分别进行高温超声煮洗,而后用去离子水清洗;步骤B,将所述Si晶片置于酸溶液中煮洗,而后用去离子水冲洗;步骤C,将所述Si晶片置于碱溶液中煮洗,而后用去离子水冲洗;步骤E,将InSb晶片和Si晶片各自的抛光面向内进行贴合,而后将贴合后的两晶片置于真空键合机内进行热处理,以完成InSb晶片和Si晶片的键合。本发明InSb晶片与Si晶片键合的方法工艺简单,具有较强的实用性。
申请公布号 CN103199156A 申请公布日期 2013.07.10
申请号 CN201310109012.3 申请日期 2013.03.29
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 彭红玲;郑婉华
分类号 H01L31/18(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 曹玲柱
主权项 一种InSb晶片与Si晶片键合的方法,其特征在于,包括: 步骤A,将至少单面抛光的InSb晶片和Si晶片在有机溶剂中分别进行高温超声煮洗,而后用去离子水清洗; 步骤B,将所述Si晶片置于酸溶液中煮洗,而后用去离子水冲洗; 步骤C,将所述Si晶片置于碱溶液中煮洗,而后用去离子水冲洗; 步骤E,将InSb晶片和Si晶片各自的抛光面向内进行贴合,而后将贴合后的两晶片置于真空键合机内进行热处理,以完成InSb晶片和Si晶片的键合。
地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号