发明名称 | 一种基于二维光子晶体的气体折射率检测器 | ||
摘要 | 本发明涉及了一种基于光子晶体的气体折射率探测器。该气体折射率探测器包括:介质柱,介质柱在二维空间上呈晶格形式排列形成光子晶体,光子晶体包含横、纵方向设置的线缺陷,两条线缺陷呈形波导结构的通道,并将光子晶体分成对称的复数个区块;光子晶体包含一对点缺陷组,点缺陷组相对设置在线缺陷所形成的通道上;光子晶体相对设置有输出端,光子晶体设置有输入端;输出端配置了光功率探测器,输入端配置了激光发射器;光子晶体含于气室,通过计算部计算输出端两端光功率的比值得到待测气体的折射率。该气体折射率探测器有检测范围大,体积小,可重复检测,反应速度快等特点,在快速检测领域有广阔的应用。 | ||
申请公布号 | CN103196866A | 申请公布日期 | 2013.07.10 |
申请号 | CN201310080641.8 | 申请日期 | 2013.03.13 |
申请人 | 上海理工大学 | 发明人 | 梁斌明;胡艾青;蒋强;朱幸福;湛胜高;王荣 |
分类号 | G01N21/41(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/41(2006.01)I |
代理机构 | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人 | 郁旦蓉 |
主权项 | 一种基于光子晶体的气体折射率探测器,其特征在于,具有: 介质柱,所述介质柱在二维空间上呈晶格形式排列形成光子晶体; 所述光子晶体包含横、纵方向设置的线缺陷,两条所述线缺陷呈十字形波导结构的通道,并将所述光子晶体分成对称的复数个区块; 所述光子晶体包含一对点缺陷组,所述点缺陷组相对设置在一条所述线缺陷所形成的通道上; 所述光子晶体相对设置有输出端,所述光子晶体设置有输入端; 所述输出端配置了光功率探测器,所述输入端配置了激光发射器; 装有所述光子晶体的气室;以及 外部连接计算部。 | ||
地址 | 200093 上海市杨浦区军工路516号 |