发明名称 |
具有钝化区段的半导体元件及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种半导体元件及一种半导体工艺。该半导体元件包括一晶粒、一第一钝化层、一金属布线层及一第二钝化层。该第一钝化层位于该晶粒上,且具有数个第一区段。该等第一区段的其中之一具有一第一宽度。该金属布线层位于该第一钝化层上,且具有数个第二区段。该等第二区段的其中之一具有一第二宽度。该第二钝化层位于该金属布线层上,且具有数个第三区段。该等第三区段的其中之一具有一第三宽度。该第二宽度等于或小于该第一宽度及该第三宽度。藉此,可减少翘曲。 |
申请公布号 |
CN103199070A |
申请公布日期 |
2013.07.10 |
申请号 |
CN201310109196.3 |
申请日期 |
2013.03.29 |
申请人 |
日月光半导体制造股份有限公司 |
发明人 |
杨国宾;王盟仁 |
分类号 |
H01L23/488(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/488(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
陆勍 |
主权项 |
一种半导体元件,其特征在于,包括:一晶粒,具有一第一表面及一第二表面;一第一钝化层,位于该晶粒的第二表面,且具有数个第一区段,所述第一区段的其中之一具有一第一宽度;一金属布线层,位于该第一钝化层上,且具有数个第二区段,所述第二区段的其中之一具有一第二宽度;及一第二钝化层,位于该金属布线层上,且具有数个第三区段,所述第三区段的其中之一具有一第三宽度;其中所述第二区段位于所述第一区段及所述第三区段之间,且该第二宽度等于或小于该第一宽度及该第三宽度。 |
地址 |
中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号 |