发明名称 具有钝化区段的半导体元件及其制造方法
摘要 本发明提供一种半导体元件及一种半导体工艺。该半导体元件包括一晶粒、一第一钝化层、一金属布线层及一第二钝化层。该第一钝化层位于该晶粒上,且具有数个第一区段。该等第一区段的其中之一具有一第一宽度。该金属布线层位于该第一钝化层上,且具有数个第二区段。该等第二区段的其中之一具有一第二宽度。该第二钝化层位于该金属布线层上,且具有数个第三区段。该等第三区段的其中之一具有一第三宽度。该第二宽度等于或小于该第一宽度及该第三宽度。藉此,可减少翘曲。
申请公布号 CN103199070A 申请公布日期 2013.07.10
申请号 CN201310109196.3 申请日期 2013.03.29
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 杨国宾;王盟仁
分类号 H01L23/488(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I 主分类号 H01L23/488(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陆勍
主权项 一种半导体元件,其特征在于,包括:一晶粒,具有一第一表面及一第二表面;一第一钝化层,位于该晶粒的第二表面,且具有数个第一区段,所述第一区段的其中之一具有一第一宽度;一金属布线层,位于该第一钝化层上,且具有数个第二区段,所述第二区段的其中之一具有一第二宽度;及一第二钝化层,位于该金属布线层上,且具有数个第三区段,所述第三区段的其中之一具有一第三宽度;其中所述第二区段位于所述第一区段及所述第三区段之间,且该第二宽度等于或小于该第一宽度及该第三宽度。
地址 中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号