发明名称 |
多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统 |
摘要 |
本实用新型公开了一种可以准确地测试出多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统,通过每个通道的电压-插损曲线拟合得出每个通道的固定衰减下的准确电压,具有成本低、测试方法简单,适用于大型企业对多通道电控双折射液晶衰减波纹的测试。本实用新型的使用能够克服传统方法测试多通道电控双折射液晶衰减波纹测试速度慢、测试精度低和无法实现自动化等缺点,具备测试速度较快、测试精度高和测试范围广等优点。 |
申请公布号 |
CN203053677U |
申请公布日期 |
2013.07.10 |
申请号 |
CN201220723579.0 |
申请日期 |
2012.12.25 |
申请人 |
科纳技术(苏州)有限公司 |
发明人 |
赵利刚;刘华;袁海骥 |
分类号 |
G01M11/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统,其特征在于:包括光源模块、光学平台、待测多通道电控双折射液晶及其夹、治具、45度偏振片、平面反射镜、环形器、光谱分析仪,其中光源模块作为宽带光源,宽带光源经过光学平台入射到带有夹、治具的待测多通道电控双折射液晶上,45度偏振片用于从多通道电控双折射液晶产生不同偏振光的衰减改变,平面反射镜用于反射不同偏振态的宽带光,该光再经过光学平台,经由环形器接收到光谱分析仪,光谱分析仪用于测量多通道电控双折射液晶的插入衰减损耗。 |
地址 |
215121 江苏省苏州市工业园区启明路158号综合保税区B区建屋第四号厂房科纳技术(苏州)有限公司 |