能够自测PCIE接口的存储系统及测试方法

摘要

本发明提供一种能够自测PCIE接口的存储系统及测试方法。本发明所述存储系统，包括多个DMA内存单元，用于存储测试数据；与所述DMA内存单元连接的数据处理单元，通过PCIE接口，使所述存储系统中的存储控制单元与所述DMA内存单元进行至少一次预设数量的数据传输，并且在传输的过程中记录所产生的传输信息，并在传输完成所产生的中断或传输过程中因出现错误所产生的中断期间，将所述传输信息予以输出；测试单元，依据所述数据处理单元所输出的传输信息分析所述PCIE接口的至少一种性能。

主权项

一种能够自测PCIE接口的存储系统，其特征在于，至少包括：多个DMA内存单元，用于存储用于测试的数据；与所述DMA内存单元连接的数据处理单元，通过PCIE接口，使所述存储系统中的存储控制单元与所述DMA内存单元进行至少一次预设数量的数据传输，并且在传输的过程中记录所产生的传输信息，并在传输完成所产生的中断或传输过程中因出现错误所产生的中断期间，将所述传输信息予以输出；测试单元，用于依据所述数据处理单元所输出的传输信息分析所述PCIE接口的至少一种性能。