一种片内混合测试装置和方法

摘要

本发明提出了一种片内混合测试装置和方法，通过内置一个可编程的引擎到芯片的电路系统中，并将对被测电路的测试流程，统一规范为对不同寄存器的读写及相关的计算判断等操作，每一步操作对应测试控制引擎的一条指令，通过编写不同的指令序列，完成不同的测试流程控制。本发明还可以根据不同需求编写程序来控制测试引擎，以实现更加全面的、更加高效的完成对电路参数的测试和验证。

主权项

一种片内混合测试装置，其特征在于，包括：设置在芯片内的待测电路单元、控制寄存器单元、状态寄存器单元、以及测试控制单元；所述控制寄存器单元连接在所述待测电路单元的控制信号输入口和所述测试控制单元测试信号发送端之间；所述状态寄存器单元连接在所述待测电路单元的状态信号输出口和所述测试控制单元测试信号接收端之间；所述测试控制单元用于执行测试控制引擎数据的处理过程，并通过更改所述控制寄存器单元中的值对所述待测电路单元发出测试控制指令，以及读取所述状态控制寄存器单元中的值获取所述待测电路单元的状态信息。