芯片测试装置及其测试方法

摘要

本发明公开了一种芯片测试装置及其测试方法，该芯片测试装置包含指令产生模块、传送/接收模块及控制模块。在指令产生模块产生一第一测试指令后，传送/接收模块将该第一测试指令传送至射频识别标签芯片并自射频识别标签芯片接收一目标测试结果。控制模块用以判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果。若控制模块的判断结果为否，控制模块控制指令产生模块产生一第二测试指令以重新测试射频识别标签芯片。本发明其可达到自动化随机重复测试RFID标签芯片的功效，除省去使用者编辑测试指令所花费的时间与精力外，还可以提升RFID标签芯片的测试指令范围的涵盖率。

主权项

一种芯片测试装置，用以测试一射频识别卷标(RFID tag)芯片，其特征在于，它包含：一指令产生模块，用以产生一第一测试指令；一传送/接收模块，耦接至该指令产生模块，用以将该第一测试指令传送至该射频识别卷标芯片并自该射频识别卷标芯片接收一目标测试结果；以及一控制模块，耦接至该传送/接收模块及该指令产生模块，用以判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果，并控制该指令产生模块产生一第二测试指令以测试该射频识别卷标芯片。