发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 一种半导体装置包括一支撑板、安装于该支撑板的一主表面上的一第一半导体元件、及提供于该支撑板与该第一半导体元件之间的一电子元件;其中,该支撑板包括在与该第一半导体元件分离的方向上形成的一凹入部分;及该电子元件的至少一部分被容纳于该凹入部分中。
申请公布号 TWI400774 申请公布日期 2013.07.01
申请号 TW098105976 申请日期 2009.02.25
申请人 富士通半导体股份有限公司 日本 发明人 西村隆雄;乘松孝行
分类号 H01L23/12;H01L23/48;H01L21/60 主分类号 H01L23/12
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项
地址 日本