发明名称 校准输出入电路之方法与相关装置
摘要 一种校准输出入电路之方法与相关装置,以在一晶片中校准一输出入电路的输出端驱动阻抗。该晶片中另设有复数个基本阻抗及一非挥发性记忆体。校准输出入电路之方法包括量测一基本阻抗之阻抗值并将量测结果记录于该非挥发性记忆体中;使至少一个基本阻抗导通,以根据导通之基本阻抗合成一对应之校准阻抗;调整该校准阻抗中导通之基本阻抗的数量,并根据该量测结果以及该校准阻抗与该驱动阻抗在该输出端之分压情形估计该驱动阻抗之阻抗值。
申请公布号 TWI400455 申请公布日期 2013.07.01
申请号 TW098133229 申请日期 2009.09.30
申请人 晨星半导体股份有限公司 发明人 田尔文;叶明杰
分类号 G01R27/02;G01R31/26 主分类号 G01R27/02
代理机构 代理人 叶明源 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2;杨代强 台北市文山区罗斯福路6段407号4楼
主权项
地址 新竹县竹北市台元街26号4楼之1 TW 4F-1, NO. 26, TAI-YUAN ST., CHUPEI, HSINCHU HSIEN, TAIWAN 302, R. O. C.