一种非接触智能卡芯片的测试装置

摘要

一种非接触智能卡芯片的测试装置，涉及非接触式智能卡芯片测试领域，解决了现有技术对测试仪的硬件资源有较高要求，测试系统成本较高的问题。所述测试装置包括数字逻辑控制单元、信号调理单元和射频单元，数字逻辑控制单元对计算机传送的功能指令进行解析获得测试向量参数和命令信息，并对所述命令信息进行编码，并发送至信号调理单元；信号调理单元根据测试向量参数产生两路电压信号；并根据命令信息对两路电压信号进行调制为射频单元提供供电电压，射频单元向待测芯片发送加载信号Vpp，并接收待测芯片返回数据并进行解调，将解调后的数据发送至数字逻辑控制单元。本实用新型可以不依靠测试仪满足测试的需求，极大降低了整个测试系统的成本。

主权项

一种非接触智能卡芯片的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括数字逻辑控制单元(2)、信号调理单元(3)和射频单元(4)， 所述数字逻辑控制单元(2)与计算机通信，对计算机传送的功能指令进行解析获得测试向量参数和命令信息，并对所述命令信息进行编码，将测试向量参数和编码后命令信息发送至信号调理单元(3)；将接收到的解调后的数据发送至计算机； 所述信号调理单元(3)根据接收到的测试向量参数产生两路电压信号：高电平Vhigh和低电平Vlow；并根据编码后命令信息对两路电压信号进行调制，为射频单元(4)提供供电电压； 所述射频单元(4)向待测芯片发送加载信号Vpp，接收待测芯片返回数据并进行解调，将解调后的数据发送至数字逻辑控制单元(2)。