发明名称 | 荧光测定法 | ||
摘要 | 本发明涉及荧光测定法,且具体地涉及用于样本中荧光的时延检测的方法和设备,例如用于一种临床环境。所披露的示例性实施例涉及一种荧光计(100),这种荧光计包括:一个光源(101)、一个光检测器(102)、一个安置在该光源和该光检测器之间的样本容器(103)、一个电机(104);以及一个安置在该样本容器周围的光透射调制器(105)并包括一对附装在该电机上用于绕一个共轴(108)旋转的盘(106、107),这对盘被安排成允许从该光源至一个第一旋转位置上的样本的透射,被安排成允许从该样本至一个第二旋转位置上的检测器的透射并阻挡第一和第二旋转位置二者上的光源和检测器之间的直射光透射。可以在停止电机的运行之后并且在光透射调制器旋转的同时捕捉光信号数据,以便降低或消除来自电机的电噪声和机械振动。 | ||
申请公布号 | CN103180721A | 申请公布日期 | 2013.06.26 |
申请号 | CN201180051249.X | 申请日期 | 2011.10.31 |
申请人 | 爱德华·约翰·汤普森 | 发明人 | 爱德华·约翰·汤普森;伊兰·塔尔 |
分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人 | 苗源;王漪 |
主权项 | 一种荧光计,包括:一个光源;一个光检测器;一个安置在该光源和该光检测器之间的样本容器;一个电机;以及一个光透射调制器,该光透射调制器安置在该样本容器周围并包括一对附装在该电机上用于绕一个共轴旋转的盘,这对盘被安排成允许从该光源至一个第一旋转位置上的样本的透射,被安排成允许从该样本至一个第二旋转位置上的检测器的透射并阻挡第一和第二旋转位置二者上的光源和检测器之间的直射光透射。 | ||
地址 | 英国伯格斯希尔 |