发明名称 |
一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测装置 |
摘要 |
本发明涉及一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测装置,属于航空航天技术领域。本发明的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测装置包括:试验机组柜、真空抽气系统、真空仓、光学样品、石英晶体微量天平探测器、分光光度计、分光光度计窗口、热控样品台、分光光度计监测窗口、石英晶体微量天平监测计算机和机柜。本发明的方法的灵敏度高,达到1.10×10-9~4.42×10-9;试验过程稳定可靠、重复性好,并适用于大规模试验。 |
申请公布号 |
CN101876614B |
申请公布日期 |
2013.06.26 |
申请号 |
CN200910259350.9 |
申请日期 |
2009.12.17 |
申请人 |
中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 |
发明人 |
颜则东;王先荣;王鷁;姚日剑;柏树;冯杰 |
分类号 |
G01N5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N5/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京理工大学专利中心 11120 |
代理人 |
张利萍 |
主权项 |
一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测装置,其特征在于包括:试验机组柜(1)、真空抽气系统(2)、真空仓(3)、光学样品(4)、石英晶体微量天平探测器(5)、分光光度计(6)、分光光度计窗口(7)、热控样品台(8)、分光光度计监测窗口(9)、石英晶体微量天平监测计算机(10)和机柜(11);其连接关系为:真空仓(3)装置安装于试验机组柜(1)上,通过密封管路与真空抽气系统(2)连接;真空抽气系统(2)安装于试验机组柜(1)内部,分光光度计窗口(7)安装分光光度计(6);真空仓(3)内放置石英晶体微量天平探测器(5)和热控样品台(8),石英晶体微量天平探测器(5)和热控样品台之间的相互视角为180°;分光光度计中光束通过分光光度计监测窗口(9)入射到光学样品(4)上;测控系统通过电缆与石英晶体微量天平探测器(5)、热控样品台(8)和分光光度计(6)连接,以控制热控样品台(8)温度,测量真空出气污染;测控系统工作通过石英晶体微量天平探测器软件、热控样品台温度控制软件、分光光度计监测软件来完成。 |
地址 |
730000 甘肃省兰州市94号信箱 |