发明名称 | 利用偏振可控的太赫兹波对样品进行成像的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种利用偏振可控的太赫兹波对样品进行成像的方法,其包括以下步骤:在太赫兹波的偏振态为线偏振时,将偏振方向调整为水平方向,测量与被测样品相互作用后的水平太赫兹波的图像;将偏振方向调整为竖直方向,测量与被测样品相互作用后的竖直太赫兹波图像。对两幅太赫兹图像进行分析,水平偏振的太赫兹波入射得到的图像由于接收信号较强,可以反映与样品作用后强度发生的变化;竖直偏振的太赫兹波入射得到的图像可以反映样品引起的太赫兹波偏振发生的微小变化。 | ||
申请公布号 | CN102192884B | 申请公布日期 | 2013.06.19 |
申请号 | CN201110060516.1 | 申请日期 | 2011.03.14 |
申请人 | 首都师范大学 | 发明人 | 张亮亮;钟华;邓朝;张存林 |
分类号 | G01N21/21(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/21(2006.01)I |
代理机构 | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人 | 孙皓晨;张爱莲 |
主权项 | 一种利用偏振可控的太赫兹波对样品进行成像的方法,其特征在于,包括以下步骤:在太赫兹波的偏振态为线偏振时,将偏振方向调整为水平方向,测量与被测样品相互作用后的太赫兹波的水平分量;对所述水平分量的太赫兹脉冲进行分析,得到水平偏振太赫兹波入射的物体图像;在太赫兹波的偏振态为线偏振时,将偏振方向调整为竖直方向,测量与被测样品相互作用后的太赫兹波的水平分量;对所述水平分量的太赫兹脉冲进行分析,得到竖直偏振太赫兹波入射的物体图像。 | ||
地址 | 100048 北京市海淀区西三环北路105号 |